塑料托盤電阻率測試儀

塑料托盤電阻率測試儀
 

一、概況：(1)適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；EN 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效）；FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應(yīng)用系統(tǒng)防靜電檢測通用規(guī)范》6.1及ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》要求制作。 GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測定》；GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法》 ；GB/T 1692-2008 《硫化橡膠絕緣電阻率的測定》；GB/T 12703.4-2010 《紡織品 靜電性能的評定 第４部分：電阻率》
GB/T 10064-2006《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法》。
(2)適用范圍：適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
(3)特點(diǎn)：采用四探針測量法、儀器體積小、重量輕、高穩(wěn)定性，高準(zhǔn)確度的數(shù)字高阻測量儀器。本儀器配不同的測量電極(夾具)可以測量不同材料 (固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率及方阻。
(4)材料的導(dǎo)電性是用電阻率ρ（單位：歐·米）或電導(dǎo)率σ（單位：歐^-1·米^-1）來表示的。兩者互為倒數(shù)，并且都與試樣的尺寸無關(guān)，而只決定于材料的性質(zhì)。工程上習(xí)慣將材料根據(jù)導(dǎo)電性質(zhì)粗略地分為超導(dǎo)體、導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體四類。
 

二.塑料托盤體積表面電阻率測試儀技術(shù)指標(biāo)     
1、電阻測量范圍：0.01×10⁴Ω ～1×10¹⁶Ω。
電 阻 率：1.0×10⁴ ～ 2.0×10¹⁶ Ω-m；方塊電阻：1.0×10⁴ ～ 2.0×10¹⁶ Ω/□
2、液晶顯示:  電阻率、方阻、壓強(qiáng)、溫度、電導(dǎo)率、電流電壓、可輸入測試樣品數(shù)據(jù)（圓柱：直徑，高度；方體：長*寬*高）單位可以切換（mm、cm、m）
3、內(nèi)置測試電壓：0-1000V任意可設(shè)定
4、 基本準(zhǔn)確度：1%
5、使用環(huán)境: 溫度：0℃～40℃，相對濕度<80%
6、機(jī)內(nèi)測試電壓: 10/50/100/250/500/1000V 任意切換
7、供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約5W
8、測量模式：手動(dòng)/自動(dòng)量程。帶PC測試軟件（選購），USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！

型超高阻微電流測合測量裝置，也可作為超高阻計(jì)或微電流測試儀使用。該儀器設(shè)計(jì)符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》。

     儀器成套組成：由主機(jī)、標(biāo)配的環(huán)形三電極、連接線纜等部分組成。

     主機(jī)主要由高壓電源、微電流檢測計(jì)、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度校正功能；可手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

       電極選配：儀器配備標(biāo)準(zhǔn)環(huán)形三電極，客戶也可以根據(jù)需要參照國標(biāo)，自備電極以擴(kuò)大應(yīng)用場合。

     儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。

     儀器適用于工礦企業(yè)，科研院所對于防靜電產(chǎn)品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。也可用于微弱電流測量如光電效應(yīng)和器件暗電流測量。

三、基本技術(shù)參數(shù)

1. 常規(guī)測量范圍、分辨率（量程可向上或下擴(kuò)展1～2個(gè)數(shù)量級）

   電    阻：     1.0×103 ～ 2.0×1012  Ω,      分辨率0.1×103 ～ 0.1×1012  Ω

   電 阻 率：     1.0×103 ～ 2.0×1012 Ω-m    分辨率0.1×103 ～ 0.1×1012  Ω-m

   方塊電阻：     1.0×104 ～ 2.0×1012 Ω/□   分辨率1.0×103 ～ 0.1×1012  Ω/□

2 工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW&le;20W

3 外形尺寸：W×H×L=280mm×90mm×275mm

   凈   重：&le;3.0kg

4 環(huán)形三電極

    它是由三個(gè)獨(dú)立的電極組成:

4.1中心為圓柱體,直徑為50mm,高度是40mm。

4.2圓柱體外為一圓環(huán),圓環(huán)內(nèi)徑為60mm,外徑為80mm, 高是40mm。

4.3底為一平板, 直徑為100mm的圓板，厚度一般為10mm

附加介紹：

電阻率

電阻率是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種材料制成的長1米、橫截面積是1平方毫米的在常溫下（20℃時(shí)）導(dǎo)線的電阻，叫做這種材料的電阻率。電阻率的單位是歐姆·米(Ω·m或ohmm)，常用單位是歐姆·毫米和歐姆·米。

應(yīng)用

電阻率較低的物質(zhì)被稱為導(dǎo)體，常見導(dǎo)體主要為金屬，而自然界中導(dǎo)電性的是銀，其次為半導(dǎo)體，、硅鍺。當(dāng)存在外電場時(shí)，金屬的自由電子在運(yùn)動(dòng)中不斷和晶格節(jié)點(diǎn)上做熱振子的正離子相碰撞，使電子運(yùn)動(dòng)受到阻礙，因而就具有了一定的電阻。其他不易導(dǎo)電的物質(zhì)如玻璃、橡膠等，電阻率較高，一般稱為絕緣體。介于導(dǎo)體和絕緣體之間的物質(zhì)(如硅) 則稱半導(dǎo)體。電阻率的科學(xué)符號為 ρ(Rho)。 已知物體的電阻，可由電阻率ρ、長度 l 與截面面積A 計(jì)算：ρ=RA/I，在該式中， 電阻R 單位為歐姆，長度 l 單位為米，截面面積 A 單位為平方米，電阻率 ρ單位為

歐姆·米

計(jì)算公式

電阻率的計(jì)算公式為：ρ=RS/L

ρ為電阻率——常用單位Ω·m

S為橫截面積——常用單位㎡

R為電阻值——常用單位Ω

L為導(dǎo)線的長度——常用單位m

-----------------------------------------

電阻率的另一計(jì)算公式為：ρ=E/J

ρ為電阻率——常用單位Ω·mm2/m[1]

E為電場強(qiáng)度——常用單位N/C

J為電流密度——常用單位A/㎡

（E，J 可以為矢量）

說明

1．電阻率ρ不僅和導(dǎo)體的材料有關(guān)，還和導(dǎo)體的溫度有關(guān)。在溫度變化不大的范圍內(nèi)：幾乎所有金屬的電阻率隨溫度作線性變化，即ρ=ρo(1+at)。式中t是攝氏溫度，ρo是O℃時(shí)的電阻率，a是電阻率溫度系數(shù)。

2．由于電阻率隨溫度改變而改變，所以對于某些電器的電阻，必須說明它們所處的物理狀態(tài)。如一個(gè)220 V -100 W電燈燈絲的電阻，通電時(shí)是484歐姆，未通電時(shí)只有40歐姆左右。

3．電阻率和電阻是兩個(gè)不同的概念。電阻率是反映物質(zhì)對電流阻礙作用的屬性，電阻是反映物體對電流阻礙作用的屬性。

總結(jié)：

常態(tài)下（由表可知）導(dǎo)電性能的依次是銀、銅、鋁，這三種材料是***常用的，常被用來作為導(dǎo)線等，其中銅用的***為廣，幾乎現(xiàn)在的導(dǎo)線都是銅的（精密儀器，特殊場合除外）鋁線由于化學(xué)性質(zhì)不穩(wěn)定容易氧化已被淘汰。由于鋁密度小，取材廣泛，且價(jià)格比銅便宜，目前被廣泛用于電力系統(tǒng)中傳輸電力的架空輸電線路。為解決鋁材剛性不足缺陷，一般采用鋼芯鋁絞線，即鋁絞線內(nèi)部包有一根鋼線，以提高強(qiáng)度。銀導(dǎo)電性能，但由于成本高很少被采用，只有在高要求場合才被使用，如精密儀器、高頻震蕩器、航天等。順便說下金，在某些場合儀器上觸點(diǎn)也有用金的，那是因?yàn)榻鸬幕瘜W(xué)性質(zhì)穩(wěn)定故采用，并不是因?yàn)槠潆娮杪市∷?/span>

六、測量技術(shù)

a.通常，絕緣材料用于電氣系統(tǒng)的各部件相互絕緣和對地絕緣，固體絕緣材料還起機(jī)械支撐作用。一般希望材料有盡可能高的絕緣電阻，并具有合適的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能。

b.絕緣材料的電阻率一般都很高，也就是傳導(dǎo)電流很小。如果不注意外界因素的干擾和漏電流的影響，測量結(jié)果就會發(fā)生很大的誤差。同時(shí)絕緣材料本身的吸濕性和環(huán)境條件的變化對測量結(jié)果也有很大影響。

c.影響體積電阻率和表面電阻率測試的主要因素是溫度和濕度、電場強(qiáng)度、充電時(shí)間及殘余電荷等。體積電阻率可作為選擇絕緣材料的一個(gè)參數(shù)，電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化。體積電阻率的測量常常用來檢查絕緣材料是否均勻，或者用來檢測那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測到的導(dǎo)電雜質(zhì)。

d.由于體積電阻總是要被或多或少地包括到表面電阻的測試中去，因此只能近似地測量表面電阻，測得的表面電阻值主要反映被測試樣表面污染的程度。所以，表面電阻率不是表征材料本身特性的參數(shù)，而是一個(gè)有關(guān)材料表面污染特性的參數(shù)。當(dāng)表面電阻較高時(shí)，它常隨時(shí)間以不規(guī)則的方式變化。測量表面電阻通常都規(guī)定1min的電化時(shí)間。

（1）溫度和濕度：固體絕緣材料的絕緣電阻率隨溫度和濕度的升高而降低，特別是體積電阻率隨溫度改變而變化非常大。因此，電瓷材料不但要測定常溫下的體積電阻率，而且還要測定高溫下的體積電阻率，以評定其絕緣性能的好壞。由于水的電導(dǎo)大，隨著濕度增大，表面電阻率和有開口孔隙的電瓷材料的體積電阻率急劇下降。因此，測定時(shí)應(yīng)嚴(yán)格地按照規(guī)定的試樣處理要求和測試的環(huán)境條件下進(jìn)行。

（2）電場強(qiáng)度：當(dāng)電場強(qiáng)度比較高時(shí)，離子的遷移率隨電場強(qiáng)度增高而增大，而且在接近擊穿時(shí)還會出現(xiàn)大量的電子遷移，這時(shí)體積電阻率大大地降低。因此在測定時(shí)，施加的電壓應(yīng)不超過規(guī)定的值。

（3）殘余電荷：試樣在加工和測試等過程中，可能產(chǎn)生靜電，電阻越高越容易產(chǎn)生靜電，影響測量的準(zhǔn)確性。因此，在測量時(shí)，試樣要*放電，即可將幾個(gè)電極連在一起進(jìn)行短路。

（4）雜散電勢的消除：在絕緣電阻測量電路中，可能存在某些雜散電勢，如熱電勢、電解電勢、接觸電勢等，其中影響的為電解電勢。用高阻計(jì)測量表面潮濕的試樣的體積電阻時(shí)，測量極與保護(hù)極間可產(chǎn)生20mv的電勢。試驗(yàn)前應(yīng)檢查有無雜散電勢。可根據(jù)試樣加壓前后高阻計(jì)的二次指示是否相同來判斷有無雜散電勢。如相同，證明無雜散電勢；否則應(yīng)當(dāng)尋找并排除產(chǎn)生雜散電勢的根源，才能進(jìn)行測量。

（5）防止漏電流的影響：對于高電阻材料，只有采取保護(hù)技術(shù)才能去除漏電流對測量的影響。保護(hù)技術(shù)就是在引起測量誤差的漏電路徑上安置保護(hù)導(dǎo)體，截住可能引起測量誤差的雜散電流，使之不流經(jīng)測量回路或儀表。保護(hù)導(dǎo)體連接在一起構(gòu)成保護(hù)端，通常保護(hù)端接地。測量體積電阻時(shí)，三電極系統(tǒng)的保護(hù)極就是保護(hù)導(dǎo)體。此時(shí)要求保護(hù)電極和測量電極間的試樣表面電阻高于與它并聯(lián)元件的電阻10～100倍。線路接好后，應(yīng)首先檢查是否存在漏電。此時(shí)斷開與試樣連接的高壓線，加上電壓。如在測量靈敏度范圍內(nèi)，測量儀器指示的電阻值為無限大，則線路無漏電，可進(jìn)行測量。

（6）條件處理和測試條件的規(guī)定:固體絕緣材料的電阻隨溫度、濕度的增加而下降。試樣的預(yù)處理?xiàng)l件取決于被測材料，這些條件在材料規(guī)范中規(guī)定。推薦使用GB10580《固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件》中規(guī)定的預(yù)處理方法。可使用甘油—水溶液潮濕箱進(jìn)行濕度預(yù)處理。測試條件應(yīng)與預(yù)處理?xiàng)l件盡可能地*，有些時(shí)候（如浸水處理）不能保持預(yù)處理?xiàng)l件和測試條件*時(shí)，則應(yīng)在從預(yù)處理環(huán)境中取出后在盡可能短時(shí)間內(nèi)完成測試，一般不超過5分鐘。

（7）電化時(shí)間的規(guī)定:當(dāng)直流電壓加到與試樣接觸的兩電極間時(shí)，通過試樣的電流會指數(shù)式地衰減到一個(gè)穩(wěn)定值。電流隨時(shí)間的減小可能是由于電介質(zhì)極化和可動(dòng)離子位移到電極所致。對于體積電阻率小于1010Ω·m的材料，其穩(wěn)定狀態(tài)通常在1分鐘內(nèi)達(dá)到。因此，要經(jīng)過這個(gè)電化時(shí)間后測定電阻。對于電阻率較高的材料，電流減小的過程可能會持續(xù)幾分鐘、幾小時(shí)、幾天，因此需要用較長的電化時(shí)間。如果需要的話，可用體積電阻率與時(shí)間的關(guān)系來描述材料的特性。當(dāng)表面電阻較高時(shí)，它常隨時(shí)間以不規(guī)則的方式變化。測量表面電阻通常都規(guī)定1分鐘的電化時(shí)間